ISO 23170:2022
مواصفة قياسية دولية
الإصدار الحالي
·
اعتمدت بتاريخ
١٥ يونيو ٢٠٢٢
Surface chemical analysis — Depth profiling — Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
ملفات الوثيقة ISO 23170:2022
الإنجليزية
29 صفحات
الإصدار الحالي
68.93 OMR
مجال الوثيقة ISO 23170:2022
This document specifies a method for the quantitative depth profiling of amorphous heavy metal oxide ultrathin films on Si substrates using medium energy ion scattering (MEIS).
الأكثر مبيعاً
GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية خليجية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
OS GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية عمانية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
OS GSO 150-1:2013
مواصفة قياسية عمانية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الأول : فترات الصلاحية الإلزامية
GSO 150-1:2013
لائحة فنية خليجية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الأول : فترات الصلاحية الإلزامية
اعتمدت مؤخراً
GSO 8:2024
مواصفة قياسية خليجية
العنوان بالعربية
GSO ASTM D2532:2024
ASTM D2532:22
مواصفة قياسية خليجية
العنوان بالعربية
GSO 11212:2024
مواصفة قياسية خليجية
العنوان بالعربية
GSO ISO 349:2024
ISO 349:2020
مواصفة قياسية خليجية
العنوان بالعربية
